无损探伤工(初级)理论知识鉴定要素细目表
行为领域 |
鉴定范围 |
鉴定点 |
重要程度 | |||
代码 |
名称 |
鉴定比重 |
代码 |
名称 | ||
基础知识A 20% |
A |
道德 (01:00:00) |
1% |
001 |
道德与职业道德 |
X |
B |
无损检测概论 (06:00:00) |
19% |
001 |
无损检测的定义 |
X | |
002 |
无损检测方法的分类 |
X | ||||
003 |
无损检测的目的 |
X | ||||
004 |
无损检测的应用特点 |
X | ||||
005 |
缺陷的种类 |
X | ||||
006 |
缺陷产生的原因 |
X | ||||
专业知识B 80% |
A |
超声波探伤 |
30% |
001 |
超声波检测技术的特点 |
X |
002 |
周期与频率 |
X | ||||
003 |
振动与波动的关系 |
X | ||||
004 |
纵波的定义 |
X | ||||
005<, , , , , , , /SPAN> |
横波的定义 |
X | ||||
006 |
表面波的定义 |
X | ||||
007 |
板波的定义 |
X | ||||
008 |
平面波的定义 |
X | ||||
009 |
球面波与柱面波 |
X | ||||
010 |
波前的定义 |
X | ||||
011 |
波阵面的定义 |
X | ||||
012 |
波线的定义 |
X | ||||
013 |
波的叠加原理 |
X | ||||
014 |
干涉波 |
X | ||||
015 |
驻波的定义 |
X | ||||
016 |
惠更斯原理 |
X | ||||
017 |
波的衍射 |
X | ||||
018 |
声强级的定义 |
X | ||||
019 |
声场特征量 |
X | ||||
020 |
分贝的定义 |
X | ||||
021 |
声速的定义 |
X | ||||
022 |
反射、折射定律 |
X | ||||
023 |
临界角 |
X | ||||
024 |
声压反射率与透射率 |
X | ||||
025 |
波在曲界面上的反射 |
X | ||||
026 |
波长的定义 |
X | ||||
027 |
衰减 |
X |
专业知识B 80% |
A |
超声波探伤 |
30% |
028 |
近场区 |
X |
029 |
声速指向性 |
X | ||||
030 |
规则反射体 |
X | ||||
031 |
半波透声层 |
X | ||||
032 |
超声波的传播 |
X | ||||
033 |
A型脉冲反射超声波探伤仪知识 |
X | ||||
034 |
超声波探头 |
X | ||||
035 |
压电效应 |
X | ||||
036 |
超声波试块 |
X | ||||
037 |
水平线性 |
X | ||||
038 |
垂直线性 |
X | ||||
039 |
动态范围 |
X | ||||
040 |
分辨率 |
X | ||||
041 |
灵敏度余量 |
X | ||||
042 |
盲区 |
X | ||||
043 |
重复频率 |
X | ||||
044 |
压电参数 |
X | ||||
045 |
超声波探伤方法 |
X | ||||
046 |
探伤灵敏度 |
X | ||||
047 |
衰减器 |
X | ||||
048 |
共振 |
X | ||||
049 |
耦合与补偿 |
X | ||||
050 |
仪器调校 |
X | ||||
051 |
粗晶材料检测 |
X | ||||
052 |
探伤面 |
X | ||||
053 |
波型转换 |
X | ||||
054 |
参考反射体 |
X | ||||
055 |
缺陷定量的方法 |
X | ||||
056 |
锻件的超声波检测 |
X | ||||
B |
射线探伤 |
30% |
001 |
射线检测基本方法 |
X | |
002 |
射线在探伤中的应用 |
X | ||||
003 |
原子核 |
X | ||||
004 |
射线探伤的原理 |
X | ||||
005 |
同位素 |
X | ||||
006 |
半衰期的定义 |
X | ||||
007 |
电磁波与波长的关系 |
X | ||||
008 |
光子能量与频率的关系 |
X | ||||
009 |
定影液的作用 |
X |
专业知识B |
B |
射线探伤 |
30% |
010 |
原子序数 |
X |
011 |
吸收剂量 |
X | ||||
012 |
连续X射线光谱 |
X | ||||
013 |
中子射线 |
X | ||||
014 |
α射线 |
X | ||||
015 |
X射线的总强度 |
X | ||||
016 |
γ射线 |
X | ||||
017 |
光电效应的定义 |
X | ||||
018 |
康普顿效应的定义 |
X | ||||
019 |
衰减规律 |
X | ||||
020 |
射线的衰减 |
X | ||||
021 |
X射线管管电压 |
X | ||||
022 |
散射比 |
X | ||||
023 |
X、γ射线的性质 |
X | ||||
024 |
宽束与窄束射线的关系 |
X | ||||
025 |
X光机额定管电压 |
X | ||||
026 |
底片清晰度 |
X | ||||
027 |
通透时间 |
X | ||||
028 |
黑度范围 |
X | ||||
029 |
胶片特性及反差系数 |
X | ||||
030 |
增感屏 |
X | ||||
031 |
像质计 |
X | ||||
032 |
曝光时间 |
X | ||||
033 |
观片灯的要求 |
X | ||||
034 |
定影配方 |
X | ||||
035 |
射线照相灵敏度 |
X | ||||
036 |
散射线屏蔽 |
X | ||||
037 |
γ射线的能量单位 |
X | ||||
038 |
气孔 |
X | ||||
039 |
实际焦点 |
X | ||||
040 |
散射对底片的影响 |
X | ||||
041 |
韧致辐射 |
X | ||||
042 |
夹渣 |
X | ||||
043 |
X射线探伤的优点 |
X | ||||
044 |
几何不清晰度 |
X | ||||
045 |
胶片对比度 |
X | ||||
046 |
X射线机冷却的方式 |
X | ||||
047 |
透照长度 |
X |
专业知识B |
B |
射线探伤 |
30% |
048 |
射线管的真空度 |
X |
049 |
X光管阳极靶 |
X | ||||
050 |
焦点形状 |
X | ||||
051 |
曝光曲线 |
X | ||||
052 |
射线穿透力 |
X | ||||
053 |
射线检测 |
X | ||||
054 |
射线机结构 |
X | ||||
055 |
γ射线照相 |
X | ||||
056 |
高速电子 |
X | ||||
057 |
射线照相法 |
X | ||||
058 |
焦距 |
X | ||||
059 |
底片影像 |
X | ||||
060 |
防护知识 |
X | ||||
C |
磁粉探伤 |
10% |
001 |
磁粉探伤的特点 |
X | |
002 |
磁感应强度 |
X | ||||
003 |
磁粉探伤的对象 |
X | ||||
004 |
漏磁 |
X | ||||
005 |
磁化电流 |
X | ||||
006 |
磁化曲线 |
X | ||||
007 |
退磁 |
X | ||||
008 |
工件磁化 |
X | ||||
009 |
磁极 |
X | ||||
010 |
磁场 |
X | ||||
011 |
磁粉探伤操作 |
X | ||||
012 |
磁悬液 |
X | ||||
013 |
磁粉 |
X | ||||
014 |
磁导率 |
X | ||||
015 |
温度对磁粉探伤的影响 |
X | ||||
016 |
磁力线 |
X | ||||
017 |
矫顽力 |
X | ||||
018 |
磁化方法 |
X | ||||
019 |
灵敏度 |
X | ||||
020 |
试片 |
X | ||||
021 |
磁粉探伤的设备与装置 |
X | ||||
D |
渗透探伤 |
10% |
001 |
渗透探伤方法 |
X | |
002 |
表面张力 |
X | ||||
003 |
清洗与去除 |
X | ||||
004 |
渗透剂 |
X | ||||
005 |
乳化剂 |
X | ||||
006 |
渗透探伤材料 |
X | ||||
007 |
后乳化渗透探伤 |
X | ||||
008 |
显像剂 |
X | ||||
009 |
试块 |
X | ||||
010 |
渗透探伤操作 |
X | ||||
011 |
影响渗透探伤的因素 |
X | ||||
012 |
荧光渗透探伤 |
X | ||||
013 |
黑光灯 |
X | ||||
014 |
渗透探伤的灵敏度 |
X | ||||
015 |
润湿 |
X | ||||
016 |
探伤材料及探伤器材 |
X | ||||
017 |
温度对探伤的影响 |
X | ||||
018 |
显像 |
X | ||||
019 |
毛细作用 |
X |
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