品牌 Scienscope 型号 VIEWX
VIEW X高解析度无损伤探伤仪
型号：View X
更多信息描述：
View X 高解析度X光无损探伤仪主要适用于BGA、CSP、flip chip、半导体内部以及多层电路板的质量检测，并能快捷清晰地检测电路板的焊接情况，特别适用生产过程的质量检测和返修后的检测。
View X为X光机系列中的一组或称为手动探伤仪，它包括一个基于Windows系统平台的工作台（ViewX-1000)，并配有图像多样采集功能，能够做到图像同步采集与分析。
View X光机完全体现了SCIENCECOPE设计中的集使用简单、图像清晰，价格低廉的完善理念。
系统特点：
●最高可达到130千伏，5微米聚焦的X光管能产生125倍的几何放大率，再加上电脑放大可以达到600倍的放大率
●观察范围可从1.5毫米至50毫米
●为分析视觉之间的相关性而特设的激光笔
●X光管探测器的Z轴可动控制（FOV和放大率控制）
●载物台可作+/-75°倾斜
整机参数：
尺寸：高：1700毫米（68英寸），宽：1450毫米（58英寸），直径：1300毫米（52英寸）
重量：770公斤（1700lbs）
载物台高度：900毫米（36英寸）
定位系统：
◆XY轴电动可调，总扫描范围：450毫米×400毫米(18英寸×16英寸)
◆X光管Z轴电动可调
◆X光管探测器手动可调
◆载物台可作+/-75°倾斜
X光管规格:
◆能量:0-130千伏(80\100\130千伏可选)
◆功率:10W(据光管不同而定)
◆聚焦范围:4.5-7微米
◆X光管类型:封闭管并配有末端视窗设计
增强屏(探伤)规格:
◆探伤器型号:4/2”双重扫描增强屏
◆照相功能:高品质CCD
计算机系统:
◆奔腾4处理器
◆Microsoft Windows XP操作系统
◆视频采集卡
◆ViewX-1000专业图象处理工作台,并带有强大的检测增强软件
◆高分辨率的17英寸CRT平面显示器,外置10-100兆的网络终端,可方便快捷地进行高速网络连接
系统性能:
◆探测范围:可变数；可从1.5毫米至50毫米
◆探测面积:450毫米×400毫米(18英寸×16英寸)
◆放大率:125倍几何放大率,再加上电脑放大可达到600倍
◆安全操作温度:0-40℃(32-99°F)
◆功率消耗:1200瓦
◆线电压:110-230VAC,50/60Hz
◆完全互锁:ViewX系统遵守美国及国际所有箱柜式X光仪器的安全标准,且符合并超越了所有CDRH的指导要求
系统选项
◆X/Y可动编程
◆X光管:80\100\130千伏可选
深圳市泛洋力创科技有限公司
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