核心提示：阿伦斯堡，德国 – 2009年12月15日 — GE Sensing Inspection Technologies 的 X - Cube 射线成像检测系统目前提供计算机断层分析 (CT) 扩展特性。通过 CT 扫描获得的体积数据提供的信息要比二维检测更详细。新式 X-Cube 系统图像处理速度比传...
| 阿伦斯堡，德国 – 2009年12月15日 — GE Sensing Inspection Technologies 的 X - Cube 射线成像检测系统目前提供计算机断层分析 (CT) 扩展特性。通过 CT 扫描获得的体积数据提供的信息要比二维检测更详细。新式 X-Cube 系统图像处理速度比传统的 CT 扫描快百分之八十。主要应用领域从产品工程延伸到金属业和铸造行业。 |
| GE Sensing Inspection Technologies X – 射线产品经理 Andreas Beyer 说：“X-cube 扩展既有已有系统的灵活性，也有 CT 成像的优点，使得用户可获得更多关键结构与铸件的体积信息。” |
| 新系统使用与标准 X-Cube 相同的 X-光设备与控制组件，并附带提高图象获取能力的装置。X-Cube CT 扩展具有最小 100µm 体元的分辨率，利用3D/arv 程序与影像优化软件，自动进行图象获取与检测数据的重建与可视化。 |
| GE传感与检测科技 简介（GE Sensing & Inspection Technologies） |
| 作为全球创新领导者，GE传感与检测科技为客户提供先进的测量，传感和检测解决方案，实现精确、高效和安全。GE传感与检测科技的产品广泛应用于石油天然气、电力、航空航天、运输、医疗等行业。GE传感与检测科技公司属于GE企业解决方案集团，在25个国家有40多家企业。请访问公司网站 www.geinspectiontechnologies.cn 获取更多信息。 |