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供应薄膜测厚仪

时间:2009/11/29 15:26:01

  核心提示:类型 激光测厚仪 品牌 科美 型号 ST2000-DLXn 测量范围 200?~ 35?(根据膜的类型)(mm) 外形尺寸 190 x 265 x 316(mm)...

产品规格
尺寸:190 x 265 x 316 mm
重量:12Kg
类型:手动
测量样本大小:≤ 4"
测量方法:非接触式
测量原理:反射计
特征:测量迅速,操作简单
非接触式,非破坏方式
优秀的重复性和再现性
用户易操作界面
每个影像打印和数据保存功能
可测量多达3层
可背面反射

产品特征
活动范围:150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
测量范围:200?~ 35?(根据膜的类型)
光斑尺寸:20? 典型值
测量速度:1~2 sec./site
应用领域:聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
电解质: SiO2 ,TiO2 ,ITO , ZrO2 ,Si3 N4
半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
选择:参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
探头类型:三目探头
nosepiece:Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
照明类型:12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer


 
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